芯片静电防护能力ESD测试是半导体产品先期质量验证的重要关键指针，CTI华测检测已通过CNAS/ISO17025/ISO9001资质认可，ANSI/ESD S20.20静电防护体系认证。可为您提供芯片防静电能力测试，测试数据准确可靠，实验室信息管理系统，保障每个服务环节的高效、保密运转。
传输线脉冲测试（TLP）测试是一种用于评估ESD（静电放电）保护装置的高度专业的方法。基本原理是利用脉冲电流模拟ESD事件，以测量器件在不同应力条件下的电压和电流响应。通过TLP测试，我们可以获取器件的IV（电流-电压）特性曲线，这对于理解器件的动态响应以及评估其在ESD事件下的性能至关重要。CTI华测检测可提供的一站式ESD测试方案，实验室内配有多项静电防护测试设备，满足产业客户各类静电防护测试需求。
闩锁效应Latch-up，是指瞬间电流被锁定或者放大，而造成芯片在电源与对地之间造成短路，而因为大电流损伤芯片。由于目前半导体电路设计密度越来越高，电压或电流的瞬间变化对于芯片的损伤也越趋严重。CTI华测检测提供完整的半导体产品芯片可靠性试验项目，协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准。
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