CTI华测检测为您提供完整的半导体产品可靠性试验项目,包含技术整合咨询、实验设计规划、硬件设计制作、可靠性试验、寿命预估等一站式服务,协助客户通过JEDEC、MIL—STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准。
CTI华测检测已通过CNAS/ISO17025/ISO9001资质认可,拥有完善的芯片失效分析工具,可为您提供芯片失效分析与先进工艺筛片分析(DPA)检测服务,测试数据准确可靠,完备的实验室信息管理系统,保障每个服务环节的高效、保密运转。
芯片静电防护能力ESD测试是半导体产品先期质量验证的重要关键指针,CTI华测检测已通过CNAS/ISO17025/ISO9001资质认可,ANSI/ESD S20.20静电防护体系认证。可为您提供芯片防静电能力测试,测试数据准确可靠,实验室信息管理系统,保障每个服务环节的高效、保密运转。