光电性能测试-CTI华测检测

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光电性能测试

CTI华测检测引进HAAS2000快速光谱仪、LED626分布光度计、半导体参数测试仪、精密LCR数字电桥等先进设备，为LED、分立半导体器件、被动元器件等提供精准的光电色性能测试与静态参数测试服务，助力企业提升产品竞争力。

服务背景

随着电子元器件在消费电子、工业控制、通信设备等领域的广泛应用，其光电性能的精确测量已成为产品设计、品质控制和采购验收的核心需求。元器件光电性能测试是确保电子元器件质量与可靠性的关键环节。

为满足行业对元器件性能标准化评估的要求，CTI华测检测引进HAAS2000快速光谱仪、LED626分布光度计、半导体参数测试仪、精密LCR数字电桥等先进设备，为LED、分立半导体器件、被动元器件等提供精准的光电色性能测试与静态参数测试服务，助力企业提升产品竞争力。

LED器件：直插式LED、贴片式LED、大功率LED、COB集成光源等的光电色性能测试

分立半导体器件：二极管、晶体管、MOS管、IGBT、晶闸管等静态参数测试

被动元器件：电阻、电容、电感等LCR参数测试

依据客户规格书

1).LED光电色性能测试：

光通量、发光效率、相对光谱功率分布、色坐标、色温、显色指数、电压-电流特性、反向击穿电压等

2).分立半导体器件静态参数测试：

电流-电压特性曲线、导通电阻、击穿电压、阈值电压、漏电流等

3).被动元器件LCR测试：

电感值、电容值、电阻值、品质因数Q、损耗因数D、等效串联电阻等

常规测试周期：5-7个工作日（根据测试项目数量复杂度可提供加急服务）

研发验证：3-5个样品

批量检测：根据统计要求确定样本数量

特殊测试：根据具体测试方案确定样品数量

✓ 拥有众多先进的HAAS-2000高精度快速光谱仪、LED-626分布光度计、半导体参数测试仪、精密LCR数字电桥等，并通过CMA/CNAS资质认可，测试数据准确可靠，检测报告具有国际公信力。

✓ 科学的实验室信息管理系统，保障每个服务环节的高效运转。

✓ 技术专家团队实践经验丰富，可提供专业、迅速、全面的一站式服务。

✓ 服务网络遍布全球，众多一线品牌指定合作实验室。