◉ 动态微光显微镜分析
动态微光显微镜分析（Dynamic EMMI）是透过外部测试平台或其他应用板提供信号驱使IC进到漏电状态，再藉由微光显微镜侦测漏电地方。其应用在当IC之漏电非一般静态偏压可以产生，需要给予动态信号后才能观测到的漏电现象。
CTI华测检测以专业、高效、准确的服务，为客户提供高质量的动态微光显微镜分析服务。我们将以客户需求为导向，不断提升服务质量和技术水平，为客户在科学研究、产品研发和质量控制等领域提供有力的支持。
◉ 服务案例
◉ 服务优势
先进设备：拥有高性能的动态微光显微镜设备，具备高灵敏度和高分辨率的成像能力。
专业技术团队：我们的技术团队具备丰富的动态微光显微镜分析经验和专业知识，能够为客户提供高质量的服务。
定制化服务：我们提供个性化的服务方案，根据客户需求进行定制化的样品准备、分析方法和数据处理。
◉ 服务流程
粤公网安备 44030602000441号