雷射光阻值变化侦测 (OBIRCH)-CTI华测检测

雷射光阻值变化侦测 (OBIRCH)

CTI华测检测雷射光阻值变化侦测（OBIRCH）服务是一种高效、精准的集成电路检测技术，我们致力于为客户提供优质的服务，助力客户在激烈的市场竞争中取得优势。

◉ 雷射光阻值变化侦测(OBIRCH)

　　雷射光阻值变化侦测（OBIRCH）服务是一种先进的非接触式检测技术，它通过精确控制激光束在半导体器件或集成电路上的照射，以诱发器件内部的温度变化，并进而观测因温度变化而导致的电阻值变化。这种技术能够实现对电路内部细微结构故障的快速、精准定位，为集成电路的质量控制和故障分析提供有力支持。

　　我们的OBIRCH服务具备高灵敏度、高精度和多功能应用的特点。通过精确控制激光束的功率和照射位置，我们能够检测到微小的阻值变化，从而发现电路中的潜在问题。此外，OBIRCH技术还能够适用于不同类型的集成电路和芯片检测，满足不同客户的多样化需求。

◉ 应用场景

◉ 服务优势

◉ 服务流程