闩锁效应是指在CMOS集成电路中寄生的PNP和NPN双极型晶体管相互影响而产生的一种低阻抗通路,从而产生大电流。由于正反馈作用,该状态会被持续维持(即“闩锁”),从而导致集成电路失效,严重时可能造成器件烧毁。 示意图 Latch up标准及测试方法 常见测试标准 JESD78与AEC-Q100-004 ...
CTI公司 陕西 项目负责人 王洁钰 完成日期 2025.5
通报情况 RASFF通报是欧盟针对食品及食品接触材料的违规通报。近期RASFF通报共14起。 产品来源国:14起违规案例中,来自中国9起,波兰、比利时、阿富汗、希腊各1起,未知1起。 通报原因:硅胶制品VOC违规5起,重金属迁移4起,尼龙制品初级芳香胺迁移2起,其他违规原因还包括缺少测试报告、使用了植物纤维(稻壳)、密胺餐具甲醛迁移...
技术服务报告出具日期:2025年04月30日
技术服务报告出具日期:2025年05月06日