华测检测认证集团(山东)有限公司 项目负责人:唐炳 完成日期:2024年04月03日
现今芯片复杂性与多样化环境下,要如何选择芯片可靠性试验的平台是关键。老化平台的选用,会直接影响可靠性实验结果,而老化试验属于半导体组件测试项目中最重要的一环,也是JEDEC与AECQ规范里是主要执行项目。老化试验相较于一般测试项目复杂,主要在于老化板(Burn-in Board)的设计与制作,因此老化硬件的架构选择也至关重要。 芯片老化试验...
CTI公司: 完成日期:2024年03月
CTI公司: 完成日期:2024年03月
CTI公司: 完成日期:2024年03月
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