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“高加速寿命试验(HALT) 和高加速应力筛选(HASS)方法及应用”讲座

发布时间:2010-12-15 浏览次数:2353

    我公司于2010年12月6日与国防科技工业质量与可靠性研究中心共同承办了“高加速寿命试验(HALT)和高加速应力筛选(HASS)方法及应用”培训讲座。主讲人陈宪章博士,系统可靠性专家,在HALT 与HASS 技术推广方面有很深的造诣。陈博士是美国可靠度工程界少有的亲自拟定产品测试计划的实务专家,除了在电子装备、电子零组件、家电产品方面主持过超过50 个HALT 与HASS 专案,更为美国联邦政府消费性产品安全总署(US-CPSC)特聘顾问,为在美国市场上销售的消费型产品的可靠性、安全性及检测方法把关。由于在产品可靠度测试方面的权威地位,陈博士被美国联邦法院特聘为“专家证人”(Expert Witness),在法庭上为产品责任归属作专家判定,及诉讼审判的依据。此次讲座的目的是讲授HALT 与HASS 试验的原理、作用、实施方法和注意事项,让学员掌握HALT、HASS 技术的内涵,缩短产品开发时间、减少不必要的设计修改,提高产品质量与可靠性;剖析HALT、HASS 实际案例,试验室观摩、交流,加深学员对HALT、HASS 技术的理解,提高实务操作能力。此次参加讲座的人员大多是业内知名公司及航天领域的可靠性专家,大家对此项新技术的应用有很高的兴趣,培训过后大家普遍反映此项技术对于产品在研发阶段的作用是非常巨大的,可以大幅度的缩短产品开发时间及不必要的设计修改(EDN及ECN)。此次培训取得了圆满的成功,获得广泛好评。