我们的服务

作为中国第三方检测与认证服务的开拓者和领先者,CTI华测检测为全球客户提供一站式检验、测试、校准、认证及技术服务。

行业解决方案

服务能力已全面覆盖到纺织服装及鞋包、婴童玩具及家居生活、电子电器、医学健康、食品及农产品……等行业的供应链上下游。

特色服务

全面保障品质与安全,推动合规与创新,彰显品牌竞争力,实现更高质量、更健康、更安全、更绿色的可持续发展。

新闻资讯

技术干货|芯片Latch up(闩锁)测试

发布时间:2025-05-08 浏览次数:66

闩锁效应是指在CMOS集成电路中寄生的PNP和NPN双极型晶体管相互影响而产生的一种低阻抗通路,从而产生大电流。由于正反馈作用,该状态会被持续维持(即“闩锁”),从而导致集成电路失效,严重时可能造成器件烧毁。

示意图

Latch up标准及测试方法

常见测试标准

JESD78与AEC-Q100-004

测试方法

闩锁测试实际是通过电流脉冲激励于非电源(输入、输出、输入/输出等)管脚或者施加过电压脉冲于电源管脚来评估芯片抗闩锁效应的能力,即过电压测试V-test及过流测试I-test。

 

电源过电压测试V-test

  • 所有输出管脚置于悬空状态,输入、输入/输出管脚置于逻辑高电平,预置管脚置于固定状态。量测每个电源管脚电流。
  • 待测电源管脚施加电压触发。
  • 去除触发源对比前后电流变化。
  • 重复2-3测试每一个电源管脚并判断测试结果。


电源测试V-TEST

 

I/O测试I-TEST或E-TEST

  • 所有非待测输出管脚置于悬空状态,输入、输入/输出管脚置于逻辑高电平。预置管脚置于规定的固定状态。
  • 对待测管脚置于逻辑高状态。测量每个电源管脚电流,然后对待测管脚施加正向及负向触发电流或电压。
  • 去除触发源后,将被测管脚恢复到施加触发源之前的状态,测量每个电源管脚电流。
  • 重复2-3测试每一个待测管脚,并判断测试结果。

I/O正向电流测试 I-TEST

 

判断标准

  • 触发前电流绝对值小于25mA,触发后电流应小于触发前电流加10mA。
  • 触发前电流绝对值大于25mA,触发后电流应小于触发前电流的1.4倍。
  • 另外测试后漏电流过大、IV曲线严重偏移、功能失效等情况,均可判为失效。

 


测试结果判断

 

服务能力

CTI华测检测半导体检测及分析中心(STC)可提供HANWA(HED-N5000)及 Thermo Fisher(MK2/MK4)测试及相应的硬件设计、制作服务。


HANWA HED-N5000                                                         Thermo Fisher  MK4