12月11-12日，“上海集成电路2024年度产业发展论坛暨第三十届集成电路设计业展览会”（ICCAD-Expo 2024）在上海世博展览馆圆满落幕。大会以“智慧上海，芯动世界”为主题，近万名集成电路业界精英共聚一堂，共同探讨新形势下的集成电路产业发展未来图景。
作为专业的第三方半导体检测机构，CTI华测检测亮相本次展会，全方位展示芯片测试、失效分析、可靠性验证等领域的先进技术与解决方案。
展会期间，CTI华测检测的专业技术团队始终坚守岗位，与前来咨询的观众进行了深入而细致的交流。无论是对复杂检测原理的阐释，还是针对具体项目需求提供定制化解决方案，团队成员都以其扎实的专业知识和丰富的实践经验，给予了详尽的解答和专业的建议。
展会现场
此外，CTI华测检测郑宜明先生在大会发表“AI时代大挑战：高功耗芯片老化与ESD验证瓶颈破解之思”技术演讲。深入分析当前高功耗芯片在可靠性验证时面临的难题，并分享CTI华测检测应对高功耗芯片老化和ESD验证瓶颈时提供给的高效方案。
检测认证作为芯片设计产业中不可或缺的一部分，CTI华测检测将始终坚持不断完善我们的专业团队与先进设备，以我们的专业能力与更多的半导体行业企业一起共同提升中国芯片设计业的核心竞争力。
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