AEC-Q101认证包含了分立半导体元件最低应力测试要求的定义和参考测试条件，目的是要确定一种器件在应用中能够通过应力测试以及被认为能够提供某种级别的品质和可靠性。
根据AEC-Q101E-2021新版规范，认证测试通用项目大大小小算起来共有37项，但并非所有的测试项目都需要测试，需要依据不同的器件类型，封装形式，安装方式等等来选择要进行的测试项目。
AEC-Q101标准将试验项目分为5个大组，以某型号SOT23封装的MOSFET为例，AEC-Q101认证应选择哪些测试项目和条件，以及不选择此项目的原因说明，以下是按组介绍需要测试项目的清单。
Group A 加速环境应力试验
Group A加速环境应力试验共有10个项目，AC高压和H3TRB高温高湿反偏做为可选项可不用进行，PTC功率温度循环在IOL间隙寿命不能满足才做，TCDT温循分层试验和TCHT温循热试验不适用在铜线连接的器件上执行测试。
Group B 加速寿命模拟试验
Group B加速寿命模拟试验共有4个项目，ACBV交流阻断电压仅适于晶闸管，SSOP稳态运行仅适于TVS二极管。
Group C 封装完整性试验
Group C封装完整性试验15个项目，TS端子强度适用于通孔引线零件的引线完整性，RTS耐溶剂性对于激光蚀刻或无标记器件不用进行。CA恒定加速，VVF变频振动，MS机械冲击，HER气密性这四项适用于气密封装的零件。
Group D 模具制造可靠性试验
Group E 电气验证试验
Group E电气验证试验6个项目。UI钳位感应开关S仅限功率MOS半导体和内部箝制IGBT，SC短路特性仅适用于智能功率零件。
CTI华测检测聚焦"芯”业务、拓展“芯”能力，可为客户提供AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q102、AEC-Q200、AEC-Q104等多个系列的测试认证服务。
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