随着新能源汽车市场的不断扩大和技术的进一步发展，汽车芯片的需求和重要性将持续增加。
在新能源汽车中，汽车芯片扮演着关键的角色。它们负责控制电池的充放电过程，监测电池状态和温度，确保电池的安全性和性能。同时，汽车芯片还控制电动机的转速和功率输出，实现车辆的动力控制和能量转换。此外，汽车芯片还负责管理车辆的充电系统、能量回收系统以及各种安全和驾驶辅助功能。
AEC-Q100
AEC-Q100是针对车载应用芯片产品设计的一套应力测试标准。该规范的主要目的是通过对芯片进行严格的可靠性验证，预防可能发生的各种状况或潜在的失效状态。
AEC-Q100规范于1994年6月首次发布，经过十多年的发展，已成为汽车电子系统中集成电路评价的通用标准。对于车用芯片来说，AEC-Q100是最常见的应力测试认证规范。
该规范要求对每个芯片进行标准规范的测试，以确保其功能性和可靠性。通过进行各种应力测试，如温度循环测试、湿热循环测试、振动测试等，可以验证芯片在各种环境条件下的稳定性和可靠性。这些测试有助于提升产品的可靠性与质量，降低芯片在使用过程中出现故障或失效的风险。
AEC-Q100关键测试类别
1、加速环境应力测试
| 测试项目 | 缩写 | 检测方法 |
| 预处理 | PC | J-STD-020 JESD22-A113 |
| 有偏温湿度或有偏高加速应力测试 | THB/HAST | JESD22-A101 JESD22-A110 |
| 高压或无偏高加速应力测试 或无偏温湿度测试 |
AC/UHST /TH | JESD22-A102 JESD22-A118 JESD22-A101 |
| 温度循环 | TC | JESD22-A104 |
| 功率负载温度循环 | PTC | JESD22-A105 |
| 高温储存寿命测试 | HTSL | JESD22-A103 |
2、加速寿命模拟测试
| 测试项目 | 缩写 | 检测方法 |
| 高温工作寿命 | HTOL | JESD22-A108 |
| 早期寿命失效率 | ELFR | AEC Q100-008 |
| 非易失性存储器耐久 | EDR | AEC Q100-005 |
3、封装组合完整性测试
| 测试项目 | 缩写 | 检测方法 |
| 绑线剪切 | WBS | AEC Q100-001 |
| 绑线拉力 | WBP | MIL-STD 883 Method2011 |
| 可焊性 | SD | J-STD-002 |
| 物理尺寸 | PD | JESD22-B100 |
| JESD22-B108 | ||
| 锡球剪切 | SBS | AEC Q100-010 |
| 引脚完整性 | LI | JESD22-B105 |
| Bump剪切 | BST | JESD22-B117 |
4、芯片晶元可靠度测试
| 测试项目 | 缩写 | 检测方法 |
| 电迁移 | EM | / |
| 经时介质击穿 | TDDB | / |
| 热载流子注入 | HCI | / |
| 偏压温度不稳定性 | BTI | / |
| 应力迁移 | SM | / |
5、电气特性确认测试
| 测试项目 | 缩写 | 检测方法 |
| 应力测试前后功能参数测试 | TEST | 规格书 |
| 静电放电（HBM） | HBM | AEC-Q100-002 |
| 静电放电（CDM） | CDM | AEC-Q100-011 |
| 闩锁效应 | LU | AEC-Q100-004 |
| 电分配 | ED | AEC-Q100-009 |
| 故障等级 | FG | AEC-Q100-007 |
| 特性描述 | CHAR | AEC-Q003 |
| 电磁兼容 | EMC | SAE JI752/3 |
| 短路特性描述 | SC | AEC-Q100-012 |
| 软误差率 | SER | JESD89-1 |
| JESD89-2 | ||
| JESD89-3 | ||
| 无铅（Pb） | LF | AEC-Q005 |
6、缺陷筛选测试
| 测试项目 | 缩写 | 检测方法 |
| 过程平均测试 | PAT | AEC-Q001 |
| 统计良率分析 | SBA | AEC-Q002 |
7、腔体封装完整性测试
| 测试项目 | 缩写 | 检测方法 |
| 过程平均测试 | PAT | AEC-Q001 |
| 统计良率分析 | SBA | AEC-Q002 |
| 测试项目 | 缩写 | 检测方法 |
| 机械冲击 | MS | JESD22-B104 |
| 变频振动 | VFV | JESD22-B103 |
| 恒加速度 | CA | MIL-STD-883 Method2001 |
| 粗细气漏测试 | GFL | MIL-STD-883 Method1014 |
| 包装跌落 | DROP | / |
| 盖板扭力测试 | LT | MIL-STD-883 Method2024 |
| 芯片剪切 | DS | MIL-STD-883 Method2019 |
| 内部水汽含量测试 | IWV | MIL-STD-883 Method1018 |
AEC-Q100的应用可以有效提高车载应用集成电路产品的可靠性，并确保其能够在严苛的汽车环境中正常运行。对于汽车行业来说，遵循AEC-Q100规范是保证汽车电子系统质量和安全性的重要措施之一。
CTI华测检测拥有专业的技术团队，可以根据客户的产品测试需求，从方案制定、测试硬件设计、硬件制作、测试及验证等全方位服务，可以为您提供一站式解决方案。CTI华测检测还可以提供全面的芯片性能检测、可靠性验证、失效分析等服务。
粤公网安备 44030602000441号