AEC-Q101标准试验项目主要参考了军用级、工业级和车用级的标准，其中Group B加速寿命模拟试验中高温反向偏压（HTRB）试验方法就是军用级标准。参考了MIL-STD-750-1 M1038条件A（用于二极管、整流器和齐纳管）和M1039条件A（用于晶体管）。
试验目的
高温反向偏压（HTRB）试验旨在消除器件因制造异常产生的缺陷器件。如果没有老化，这些缺陷器件将在正常使用条件下过早出现寿命故障。另外，在特定条件下运转半导体器件，以揭示由时间和应力引起的电气故障模式。
试验条件
AEC-Q101标准要求在规定的最大直流反向电压下1000小时，同时调整结温以避免热失控，允许将环境温度TA从Ta（MAX）向下调整。
标准要求同时测试3批*77颗器件，过程中实时监控漏电流，老化前后也要测量静态参数。通常会制作各种专用老化板匹配不同封装器件加电老化，保证结果的准确性。
试验前的电性能参数
试验前后要进行基本的静态参数测量，参考以下表一和表二，所有器件性能参数必须符合用户零件规范的要求。
表一：
表二：
失效判定
a.应符合用户的零件规范中定义的性能参数要求规定；
b.试验后电性能参数应保持在初始值的±20%；
c.允许的泄漏电流不超过测试前初始值的5倍；
d.器件外观不可以出现任何物理损坏。
试验设备及参数
温度范围：室温+20℃～200℃
通道：16通道，8组电压控制
电压：2000V Max
尺寸：630宽×640高×600mm深
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